产品用途:本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC光通讯(如 收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环 测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
yle="margin-top: 0px; margin-right: 0px; margin-bottom: inherit; margin-left: 0px; padding-right: 0px; padding-left: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(119 119 119);">
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yle="margin-top: 6px !important; margin-right: 0px; margin-bottom: 0px; margin-left: 20px; padding: 0px 0px 0px 20px; box-sizing: border-box; list-style: none; position: relative; line-height: 32px; font-weight: lighter;"> 产品用途:本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC光通讯(如 收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环 测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。